環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)簡介

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)簡介

一、主要國際標(biāo)準(zhǔn)　　《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》是國際電工委員會(huì)（IEC)第50技術(shù)委員會(huì)（TC 50）制定的一整套環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)，（即IEC 68號(hào)出版物）?！　∫?yàn)榇罅康碾姽?、電子產(chǎn)品在國內(nèi)和國際上等通，使得用戶和生產(chǎn)者雙方都關(guān)心產(chǎn)品的貯存、運(yùn)輸和使用中的性能、可靠性和**性，要求制定共同的標(biāo)準(zhǔn)，以保證產(chǎn)品能滿意的工作?！痘经h(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》就是為了滿足需要，從六十年代到八十年代陸續(xù)完成的?！　∵@套環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)吸收了各國標(biāo)準(zhǔn)化的經(jīng)驗(yàn)，集中了各國有關(guān)專家的智慧，因此具有體系完整、結(jié)構(gòu)嚴(yán)謹(jǐn)、便于利用、內(nèi)容完善等優(yōu)點(diǎn)，并具有科學(xué)性和先進(jìn)性，已在世界各國十分廣泛的采用。不僅電工、電子產(chǎn)品，其它行業(yè)產(chǎn)品也在采用。

二、美國**標(biāo)準(zhǔn)（MIL）　　其基本標(biāo)準(zhǔn)為MIL－STD－810C《空間和陸用環(huán)境試驗(yàn)方法》和MIC－STD－202F《電子、電氣零件試驗(yàn)方法》　　美軍標(biāo)和IEC標(biāo)準(zhǔn)一樣已廣泛被國際采用?！　∥覈耸甏捎嘘P(guān)部門組織制定了GB 2421－2424《電工、電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》，GJB 150《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》，GJB 360《電子元器件試驗(yàn)方法》，分別等效于IEC 68號(hào)出版物，MIL－STD－810C和MIL－STD－202F。到九十年代，為了提高產(chǎn)品在國際市場上競爭能力，國家有關(guān)部門明確規(guī)定：民用產(chǎn)品和**產(chǎn)品的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)分別等同采用IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)。

三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　以上介紹的是環(huán)境試驗(yàn)的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)，還有一類是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條件?！　庵漠a(chǎn)品技術(shù)條件有：　　BS 3898－1965《試驗(yàn)室濕熱箱技術(shù)條件》為英國標(biāo)準(zhǔn)，并為其它國家廣泛采用?！　?/font>ASTME－145－1968《重力對(duì)流和強(qiáng)制通風(fēng)老化箱技術(shù)條件》美國材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)?！　?/font>ASTMD 2436－68《電氣絕緣用強(qiáng)制對(duì)流實(shí)驗(yàn)室烘箱標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件》美國材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)?！　?/font>IEC 216號(hào)出版物《測定電氣絕緣材料耐熱性試驗(yàn)導(dǎo)則》第四部分，老化烘箱?！　∥覈嘘P(guān)部門也先后制訂了各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件，如： GB 10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB 10592《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。

四、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢定方法　　我國有關(guān)部門制訂了GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》、HB 6783《**機(jī)載設(shè)備氣候環(huán)境試驗(yàn)箱（室）檢定方法》，HB 7122《民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備氣候試驗(yàn)箱（室）檢定方法》，從而使環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢定和認(rèn)證有章可循，使設(shè)備質(zhì)量得到保證。

五、在試驗(yàn)方法及技術(shù)條件中的溫度性能指標(biāo)  1、在試驗(yàn)方法中主要指標(biāo)是容差（允許誤差），有些標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)也對(duì)溫度變化（溫度波動(dòng)度）提出要求。 　　“容差”在IEC68－2－3，2．1的注中陳述：“溫度±2℃的容差是由于考慮到測量的一概誤差，緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動(dòng)度等”?！　≡?/font>IEC 216號(hào)出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差”是“由于溫度波動(dòng)度和溫度梯度組合而成的溫度誤差”。　　在MIL－STD－810的4．4．1試驗(yàn)條件允差中規(guī)定“試樣應(yīng)完全被空氣包圍（必要的支承點(diǎn)除外），試驗(yàn)區(qū)測量系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處溫度梯度(靠近試樣處測得）應(yīng)分別在試驗(yàn)溫度±2℃以內(nèi)和不超過每米1℃或總的大值為2．2℃（試件不工作)”?！　≡?/font>MIL－STD－202F，2．2．1及MIL－STD－883C，4．5．8中，對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱允許的溫度變化：　　（1） 工作區(qū)內(nèi)的溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一參考點(diǎn)和的溫度變化保持在±2℃ 以內(nèi)（即任一點(diǎn)的溫度波動(dòng)度）?！　。?/font>2） 工作區(qū)內(nèi)的空間溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一點(diǎn)的溫度，在給定時(shí)間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點(diǎn)不超過±3℃（即為容差）　　在IEC 68號(hào)出版物及GB 2423中，性能指標(biāo)規(guī)定為“容差”，對(duì)容差大小，規(guī)定為高溫試驗(yàn)箱±2℃，低溫試驗(yàn)箱±3℃。2、在產(chǎn)品技術(shù)條件中的溫度性能指標(biāo)　　（1）國外產(chǎn)品技術(shù)條件　　ASTM，D2436規(guī)定有溫差和溫度波動(dòng)度，溫差的測試方法是：布置9只熱電偶在箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后開始測試，每5分鐘測一次，共測5次得到45個(gè)數(shù)據(jù)，計(jì)算45個(gè)數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫，從45個(gè)數(shù)中選取兩個(gè)大值和兩個(gè)小值各自減去箱溫，然后從4個(gè)差值中選出兩個(gè)大值并求其平均值，此值就是溫差?！　?/font>IEC 216號(hào)出版物第四部分老化烘箱中，同樣規(guī)定有溫差和波動(dòng)度指標(biāo)，溫差的測試方法與ASTM．D2436同，而在數(shù)據(jù)處理上則是從45個(gè)數(shù)據(jù)中找出大和小溫度值，其差值就是溫差。　　BS 3898中，規(guī)定溫度指標(biāo)為溫度均勻度與溫度波動(dòng)度，其溫度均勻度的測試方法為：當(dāng)箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后，用布置在箱內(nèi)的熱電偶連續(xù)測試兩小時(shí)，分別計(jì)算每一測試點(diǎn)與中心點(diǎn)的溫差平均值，其中大者即為溫度均勻度，并加上正負(fù)號(hào)表示。　　在國外公司的產(chǎn)品樣本中， 溫度指標(biāo)都只有兩個(gè)， 即溫度波動(dòng)度（Tem. Constancy）和溫度均勻度（Tem. Unifortmty），或者是溫度波動(dòng)度和溫度誤差(Tem . Variation）沒有哪個(gè)國外廠家的產(chǎn)品樣本上同時(shí)出現(xiàn)溫度波動(dòng)度、溫度均勻度和溫度誤差三個(gè)指標(biāo)的?！　。?/font>2）國內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　在我國的產(chǎn)品技術(shù)條件——低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱等產(chǎn)品技 術(shù)條件中都規(guī)定有溫度波動(dòng)度、溫度均勻度和溫度誤差三個(gè)指標(biāo)。溫度波動(dòng)度為箱內(nèi)任一點(diǎn)溫度的時(shí)間誤差，溫度誤差為箱內(nèi)各點(diǎn)溫度與標(biāo)稱溫度的誤差值，即為空間誤差。各國標(biāo)準(zhǔn)對(duì)溫度波動(dòng)度與溫度誤差意義上的理解和測試方法基本相同，但我國技術(shù)條件中對(duì)溫度均勻度的測試和數(shù)據(jù)處理與國外有所區(qū)別，我國規(guī)定利用30分鐘內(nèi)測得每個(gè)測試點(diǎn)15次數(shù)據(jù)，分別求出每次數(shù)據(jù)中高與低溫度之差，然后算出15次差值的平均值即為均勻度，顯然由于未與標(biāo)稱溫度或中心點(diǎn)溫度進(jìn)行比較，因此溫度均勻度指標(biāo)沒有正負(fù)號(hào)。　　由于有以上技術(shù)條件的規(guī)定，所以國內(nèi)生產(chǎn)廠在產(chǎn)品樣本和說明書中用了三個(gè)溫度性能指標(biāo)?！　‖F(xiàn)在國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督中心，在按照GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備認(rèn)證驗(yàn)收時(shí)也只測溫度誤差而不測溫度均勻度?！　∥?、國內(nèi)外環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度性能指標(biāo)測試的一些情況1、工作空間：IEC總則中是這樣定義的：“工作空間是可以維持規(guī)定條件在所規(guī)定的公差范圍內(nèi)的試驗(yàn)箱的那部分”國外廠家如日本公司規(guī)定工作空間在距箱壁1/ 6邊長以外的區(qū)域除外，也就是說滿足技術(shù)指標(biāo)的空間只有箱子空間的30％。我國產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定距箱壁1/10邊長的區(qū)域除外，工作空間為箱子空間的51％。可見我國設(shè)備工作空間要大得多，可試驗(yàn)更多的產(chǎn)品。

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